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Sistema de medição por interferômetro a laser com precisão de 0,05 ppm e resolução de 1 nm

Informação Básica

Lugar de origem:	China
Marca:	UNIMETRO/CHOTEST
Certificação:	CE
Número do modelo:	SJ6000

Quantidade de ordem mínima:	1set
Preço:	Discussible
Detalhes da embalagem:	caixa de papel
Termos de pagamento:	T/T
Habilidade da fonte:	100 meses ajustados

Melhor preço contacto

Informação detalhada

Nome do produto:	Sistema de medida do interferômetro do laser SJ6000	Escala de medição linear:	0~80m
Resolução:	1nm	Precisão da frequência do laser:	0.05ppm
Temperatura operacional::	℃ (de 0-40)	Taxa dinâmica da captação::	50 KHz
Destacar:	sistema de medida do interferômetro do laser 0.05ppm , sistema de medida do interferômetro do laser 1nm , interferômetro de medição do deslocamento 1nm

Descrição de produto

Sistema de Medição por Interferômetro a Laser com Precisão de 0,05ppm e Resolução de 1 nm

Visão Geral do Produto

A interferometria a laser é reconhecida como um método de medição de alta precisão e alta sensibilidade que utiliza o comprimento de onda da luz como critério, amplamente utilizado na fabricação de ponta. O sistema de interferômetro a laser SJ6000 incorpora um gerador de laser de hélio-neônio de alta frequência de um fornecedor dos EUA, módulos de compensação ambiental de alta precisão, processamento avançado de sinal de interferência a laser e um sistema de controle de computador de alto desempenho.

Utilizando tecnologia de estabilização de frequência térmica com modo duplo longitudinal de laser e design de caminho óptico de interferência de parâmetros geométricos, o SJ6000 oferece saída de laser estável e de alta precisão (0,05ppm) a longo prazo em aproximadamente 6 minutos, com poderoso desempenho anti-interferência. Com vários módulos de prisma, ele mede linearidade, ângulo, retilinidade, planicidade, perpendicularidade e analisa características dinâmicas.

Principais Características

Medição de Alta Precisão: Resolução nanométrica usando tecnologia de interferometria a laser; elimina influências ambientais com compensação de alta precisão; garante estabilidade de frequência a longo prazo; design de interferoscópio separado evita distorção térmica
Capacidades Abrangentes de Medição: Mede linearidade, ângulo, retilinidade, perpendicularidade e outros parâmetros geométricos; avalia a precisão de posicionamento linear e a precisão de posicionamento repetido para máquinas-ferramenta CNC, CMMs e equipamentos de movimento de precisão
Compensação Automática de Erros: Gera tabelas de compensação de erros para calibração de máquinas-ferramenta com base nas configurações do usuário
Análise Dinâmica: Realiza medições dinâmicas (curvas de deslocamento-tempo, velocidade-tempo, aceleração-tempo), medição de amplitude e análise de frequência para testes de vibração e avaliação de características dinâmicas
Padrões Integrados: Inclui padrões GB, ISO, BS, ANSI, DIN, JIS; gera relatórios de teste abrangentes com gráficos e dados
Monitoramento Ambiental: Adquire automaticamente parâmetros de temperatura, umidade e pressão com compensação manual ou automática
Gerenciamento de Banco de Dados: Banco de dados centralizado para registros de medição com capacidades de consulta e exportação para arquivos Word, Excel, AutoCAD
Design Portátil: Sistema leve de 15kg para portabilidade conveniente

Especificações Técnicas

Parâmetros do Sistema	Sensores Ambientais
Método de medição: Frequência única Precisão da frequência do laser: 0,05ppm Taxa de captura dinâmica: 50kHz Tempo de aquecimento: ~6 minutos Temperatura de operação: 0-40°C Ambiente: 0-40°C, 0-95% de umidade Temperatura de armazenamento: -20°C a 70°C	Temperatura atmosférica: ±0,1°C (0-40°C), resolução de 0,01°C Temperatura do material: ±0,1°C (0-40°C), resolução de 0,01°C Umidade atmosférica: ±5% (0-95%) Pressão atmosférica: ±0,1kPa (65-115kPa)

Medição Linear	Medição de Ângulo
Faixa de medição: 0-80m Precisão de medição: 0,5ppm (0-40°C) Resolução: 1nm Velocidade máxima: 4m/s	Faixa axial: 0-15m Faixa de medição: ±10° Precisão: ±(0,02%R+0,1+0,24M)″ Resolução: 0,1″ R = valor indicativo (″), M = comprimento medido (m)

Medição de Planicidade
Faixa axial: 0-15m	Faixa de medição: ±1,5mm
Precisão: ±(0,2%R+0,02M²) µm	Resolução: 0,1µm
Tamanho do substrato: 180mm ajustável, 360mm ajustável
R = valor indicativo (µm), M = comprimento medido (m)

Medição de Retilinidade	Retilinidade Curta	Retilinidade Longa
Faixa do eixo	0,1-4m	1-20m
Faixa de medição	±3,0mm	±3,0mm
Precisão	±(0,5+0,25%R+0,15M²)µm	±(5,0+2,5%R+0,015M²)µm
Resolução	0,01µm	0,01µm
R = valor indicativo (µm), M = comprimento medido (m)

Medição de Perpendicularidade	Retilinidade Curta	Retilinidade Longa
Faixa do eixo	0,1-3m	1-15m
Faixa de medição	±3,0mm	±3,0mm
Precisão	±(2,5+0,25%R+0,8M)µm/m	±(2,5+2,5%R+0,08M)µm/m
Resolução	0,01µm	0,01µm
R = valor indicativo (µm), M = comprimento medido (m)

etiqueta:

Sistema de medição por interferômetro a laser com precisão de 0,05 ppm e resolução de 1 nm

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